小型蒸煮老化測(cè)試箱

更新日期：2021-01-11

簡(jiǎn)要描述：

小型蒸煮老化測(cè)試箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)。操作設(shè)定簡(jiǎn)易微電腦數(shù)位LED控制，具時(shí)間規(guī)劃功能，缺水切電熱等裝置。

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品牌	豪恩	加工定制	是
分類	其他	內(nèi)箱材質(zhì)	SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板
外箱材質(zhì)	SUS304不銹鋼	溫度范圍	100℃
電源電壓	220v	工作室尺寸	500×400×170（W×H×D）mm
外形尺寸	600×500×420（W×H×D）mm

小型蒸煮老化測(cè)試箱

【詳細(xì)介紹】

豪恩系列小型蒸煮老化測(cè)試箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)；半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自動(dòng)安全保護(hù)裝置。